검사・계측기기｜광학식 검사 장치｜반도체 패키지용 광학식 자동 검사 장치
RSH-120
취급 회사명:니덱어드밴스테크놀로지주식회사
차세대 IC 서브스트레이트 기판 범프 검사 장치
차세대 IC 서브스트레이트 기판의 3D 범프 높이와 외관 동시 검사 등에 대응 높이와 외관 동시 검사 등에 대응３Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応
- 특징：
- 고속 고정밀 검사가 자유자재 초고속 범프 높이 검사 최적화된 사용자 인터페이스
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니덱어드밴스테크놀로지주식회사
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