会 社 名
ニデック株式会社
代表者名
代表取締役社長執行役員 岸田 光哉
取 引 所
東証プライム（6594）
所 在 地
京都市南区久世殿城町 338
問合せ先
コーポレートコミュニケーション部長 渡邉 啓太
電 話
(075）935-6150

ニデックのグループ会社である「ニデックアドバンステクノロジー株式会社」は、2025年2月19日（水）～2月21日（金）にソウル市COEXコンベンションセンターで開催される「SEMICON KOREA 2025」に出展します。

 

SEMICON KOREA 2025 出展について

 
会 社 名 ニデックアドバンステクノロジー株式会社
代表者名 代表取締役社長 山崎 秀和 
所 在 地 京都府向日市森本町東ノ口１−１
 ニデックパーク C 棟
　

ニデックアドバンステクノロジー株式会社（以下、当社）は、2025年2月19日(水)～2月21日(金)にソウル市 COEXコンベンションセンターで開催される「SEMICON KOREA 2025」に出展します。

 

 

今回の展示会では、IGBT/SiC 向けパワー半導体検査装置や EV/HEV 等の駆動モータ用テストベンチ、当社子会社のニデックSVプローブが開発・製造を手掛けるWafer検査用治具「プローブカード」等の最新ソリューションを出展いたします。
当社の核となる「はかる」ことを体現してきた、半導体プローブカード、半導体パッケージ基板電気検査システム 「GATSシリーズ」やパワー半導体電気検査システム「NATSシリーズ」を中心に紹介いたします。
これまで培ってきた検査技術をベースに、最新の検査ソリューションと未来に貢献する新製品・新技術を提案いたします。

 

〈出展概要〉
・会期：2025年2月19日(水)～2月21日(金)
・会場：ソウル市 COEX コンベンションセンター
・ブース：3階 Hall C C600
・公式サイト：https://www.semiconkorea.org/en
 
〈主な展示内容〉
・高電圧対応加圧構造プローブカード
・高温/高電流対応プローブカード
・2D-MEMSプローブカード
・IGBT/SiCモジュール向け絶縁/静特性/動特性検査装置 「NATS-1000/1700シリーズ」
・KGDテスト装置「NATS-1300シリーズ」
・パワー半導体モジュール用動的信頼性試験装置「NATS-8000シリーズ」
・リファレンスインバーター
・EV駆動モータ用テストベンチ 「TDASシリーズ」
・半導体パッケージ基板電気検査システム 「GATS-7000シリーズ」
・AIサーバー大型基板電気検査システム「GATS-8360」
・AC/DCマルチテスター「R-700シリーズ」
・超高精度検査用ピンプローブ