会 社 名
ニデック株式会社
代表者名
代表取締役社長執行役員 岸田 光哉
取 引 所
東証プライム（6594）
所 在 地
京都市南区久世殿城町 338
問合せ先
コーポレートコミュニケーション部長 渡邉 啓太
電 話
(075）935-6150

ニデックのグループ会社である「ニデックアドバンステクノロジー株式会社」は、2024年12月11日（水）～12月13日（金）に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2024」に出展します。

 

SEMICON Japan 2024出展について

会 社 名 ニデックアドバンステクノロジー株式会社
代表者名 代表取締役社長 山崎 秀和
所 在 地 京都府向日市森本町東ノ口１−１
ニデックパークC棟

 

ニデックアドバンステクノロジー株式会社（以下、当社）は、2024 年12月11日(水)～12月13日(金)に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2024」に出展します。

 

 

今回の展示会では、IGBT/SiC向けパワー半導体検査装置や EV/HEV等の駆動モータ用テストベンチ、Wafer検査用治具「プローブカード」等の最新ソリューションを出展いたします。
当社の核となる「はかる」ことを体現してきた、半導体パッケージ基板電気検査システム 「GATS シリーズ」や微小バンプを2D/3D 計測する光学式検査装置も併せて紹介いたします。
これまで培ってきた検査技術をベースに、最新の検査ソリューションと未来に貢献する新製品・新技術を提案いたします。

 

〈出展概要〉
・会期：2024年12月11日(水)～12月13日(金)
・会場：東京ビッグサイト 東展示棟
・ブース：2Hall 2011
・公式サイト：https://www.semiconjapan.org/jp/
 
〈主な展示内容〉
・IGBT/SiCモジュール向け絶縁/静特性/動特性検査装置 「NATS-1000/1700シリーズ」
・EV駆動モータ用テストベンチ 「TDASシリーズ」
・ウエハバンプ自動検査システム 「RWiシリーズ」
・半導体パッケージ基板電気検査システム 「GATSシリーズ」
・AC/DCマルチテスター「R-700シリーズ」
・半導体Wafer検査用プローブカード
・超高精度検査用ピンプローブ
・KGDテスト装置「NATS-1300シリーズ」
・パワー半導体モジュール用動的信頼性試験装置「NATS-8000シリーズ」
・リファレンスインバーター
・3D 光学検査装置「NSWシリーズ」