検査・計測機器|光学式検査装置|半導体パッケージ用光学式自動検査装置
RSH-120
取扱い会社名:ニデックアドバンステクノロジー株式会社
次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置
次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応
- 特徴:
- 高速高精度検査が自由自在 超高速バンプ高さ検査 最適化したユーザーインターフェイス
- この製品に関するお問い合せ
- お問い合せ先
お問い合せ先
ニデックアドバンステクノロジー株式会社
メールでのお問い合せ
お電話でのお問い合せ
075-280-8100
受付時間: 9:00~17:30(土日祝除く)