検査・計測機器|自動電気検査装置|半導体パッケージ用自動検査装置
GATS®-7755 ICS/SLP用
取扱い会社名:ニデックアドバンステクノロジー株式会社
高速高精度シャトル型ステップ&リピート式 OPEN/LEAK自動基板検査装置
多面付け基板(SLP/ICS/MCM/MCP/CSP等)パターンの導通・短絡(絶縁)検査に最適 ファインピッチFC-CSP検査に最適な高速高精度、コアレス対応の次世代型検査装置が登場!
- 特徴:
- ダブルテーブル/シャトル式 総合アライメント精度±2.5μm 部品内蔵(Embedded IC)基板対応 ケーブルレススキャナーで高速検査を実現 多彩なテスター群からお好みの仕様を選択可、コアレス基板に最適
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