- 会社名
- ニデックアドバンステクノロジー株式会社
- 代表者名
- 代表取締役社長執行役員 山崎 秀和
- 所在地
- 京都府向日市森本町東ノ口1-1 ニデックパークC棟
- 問合せ先
- 管理本部長 山口 清武
- 電話
- (075) 280－8100(ダイヤルイン)
ニデックアドバンステクノロジー株式会社（以下、当社）は、2024年12月11日(水)～12月13日(金)に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2024」に出展します。
今回の展示会では、IGBT/SiC向けパワー半導体検査装置やEV/HEV等の駆動モータ用テストベンチ、Wafer検査用治具「プローブカード」等の最新ソリューションを出展いたします。
当社の核となる「はかる」ことを体現してきた、半導体パッケージ基板電気検査システム 「GATSシリーズ」や微小バンプを2D/3D計測する光学式検査装置も併せて紹介いたします。
これまで培ってきた検査技術をベースに、最新の検査ソリューションと未来に貢献する新製品・新技術を提案いたします。
■主な展示内容
・IGBT/SiCモジュール向け絶縁/静特性/動特性検査装置 「NATS-1000/1700シリーズ」
・EV駆動モータ用テストベンチ 「TDASシリーズ」
・ウエハバンプ自動検査システム 「RWiシリーズ」
・半導体パッケージ基板電気検査システム 「GATSシリーズ」
・AC/DCマルチテスター「R-700シリーズ」
・半導体Wafer検査用プローブカード
・超高精度検査用ピンプローブ
・KGDテスト装置「NATS-1300シリーズ」
・パワー半導体モジュール用動的信頼性試験装置「NATS-8000シリーズ」
・リファレンスインバーター
・３D光学検査装置「NSWシリーズ」
