我司将于2022年12月14日(周三)~16日(周五)参加在东京国际展览中心举办的SEMICON JAPAN 2022。
日本电产理德协同Nidec SV半导体公司（Nidec SV Probe Pte.Ltd.），提供半导体制程中所需的各类检查技术，
致力于满足客户多元化、高水准的各种需求。今年也将在「SEMICON JAPAN 2022」上展出相关产品，并为大家推广介绍。
在今年的SEMICON JAPAN上，除了新产品「IGBT/SiC模块 绝缘性/静特性/动特性检查」之外，还将介绍「晶圆针测的电气检查」、「SV TCL公司的多种类探针卡」「半导体晶圆凸点光学检测系统」。
我们将根据您的需求提供最佳检测方案，诚邀您的莅临。
主要展示内容
・IGBT/SiC 模块绝缘性/静特性/动特性检查装置「NATS-1000」
・多功能测试机 「R-700系列」
・光学式外观检测装置 「Rwi系列」
・高精度治具 「Φ15μm治具」
・电气检测系统「GATS系列」
・弹簧探针卡
展会概况
| 时间 |
2022年12月14日(周三)～16日(周五) |
|---|---|
| 地点 | 东京国际展览中心 东展览楼 |
| 展位 | 2号厅 展位号：2732 |
| 官网 |
