关于尼得科精密检测科技株式会社
业务概况
介绍我们主要产品线的特点
![](/-/media/www-nidec-com/nidec-read/corporate/about/business/img/pic_business_01.jpg?rev=6b37033f9ace47e88899a9da452f5b2a&sc_lang=zh-CN&h=182&w=870&la=zh-CN&hash=8639FFBEEF645D7CF8B6811ED4E5DABB)
日积月累的值得信赖的技术。
符合市场需求的技术应用于世界各地的生产线上。
针对半导体封装、电路板的高密度化和高精度化这一市场需求,传统的检测方案已经很难检测和分析现代产品的问题所在。为解决这些问题,尼得科精密検測科技株式会社提供最新的测量・检测技术,以满足市场需求。
产品信息
自动电气检测装置
![](/-/media/www-nidec-com/nidec-read/corporate/about/business/img/g7750.jpg?rev=10262ae12a34451f990abfa6f1f914ce&sc_lang=zh-CN&h=110&w=150&la=zh-CN&hash=2817C22A09F00594AC15C8227C80F4F3)
对MCM、CSP、BGA等半导体封装进行导通和短路绝缘(OPEN/LEAK)测试的检测装置“GATS: Grid Array Testing System”系列。测试仪堪称检测装置的心脏。我们的测试仪可实现从低电压到高电压,从低电阻到高电阻的广范围的导通和短路绝缘测试。运用丰富的接触或非接触检测技术,面向单面至多面尺寸的触摸屏及液晶屏面板,提供导通和短路绝缘(OPEN/LEAK)检测。
导通绝缘测试仪
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测试仪堪称检测装置的心脏。我们的测试仪可实现从低电压到高电压,从低电阻到高电阻的广范围的导通和短路绝缘测试。
检测治具/检测软件
![](/-/media/www-nidec-com/nidec-read/corporate/about/business/img/M6.jpg?rev=bdb0b393c37d4fe58f7e0443d482b0cc&sc_lang=zh-CN&h=110&w=150&la=zh-CN&hash=22F0B71DA6330DA9EA8F55849A49D0E3)
除了可以高精度地检测导体和电极焊盘的治具外,我们还提供可以抽出检测点数以及分析检测资料的软件。
光学式检测装置
![](/-/media/www-nidec-com/nidec-read/corporate/about/business/img/RSH-SD120C.jpg?rev=0785c3da82b2423da45a5be1cb9a069e&sc_lang=zh-CN&h=110&w=150&la=zh-CN&hash=709ADE9459FC74A04CD0F5DCCCBBE652)
我们提供种类丰富的光学式外观检测装置。运用光学技术来检测光掩膜内层板、外层板上的导体式样的短路绝缘,以及盲孔和半导体封装凸起的形状、瑕疵和污点等。
探针卡
![](/-/media/www-nidec-com/nidec-read/corporate/about/business/img/Probe card_CMOS.jpg?rev=42d915a5370e4df3a12262821951252a&sc_lang=zh-CN&h=110&w=150&la=zh-CN&hash=5CC76B379624C99CF4A3FFC84CEFF22F)
我们的探针卡是应对高级晶圆测试挑战的完美解决方案。